②、适合于CSP、BGA、mBGA、DIP、PGA、ZIP、PLCC、PQFP、SQIP、SOIC、QFP、MLF、QFN、FBP等各类IC的测试。
②、测试间距≥0.30mm。
③、可根据需求定制与各类Handler配合的自动测试治具。
